Опис
SUNRISE фотометр для мікропланшетів
Sunrise – прилад для автоматичного вимірювання оптичної щільності (поглинання світла) у рідких середовищах на 96-лункових мікропланшетах. Він забезпечує високу швидкість і універсальність, з такими параметрами, як контроль температури та вибір довжини хвилі.
Технічні характеристики:
- Оптична система – 12 каналів вимірювання, 1 опорний канал
- Фільтри – 4 (можливість комплектації касетою на 6 фільтрів або градієнтним фільтром)
- Діапазон довжин хвиль – від 340 до 750 нм (компектується фільтрами 405, 450,492,620 нм)
- Діапазон вимірювань :від 340нм до 399 нм від 0 до 3,0 OD від 400нм до 750 нм від 0 до 4,0 OD
- Час вимірювання: однохвильовий режим – 6 секунд двохвильовий режим – 8 секунд кінетичний час повторення – 5 секунд
- Точність: 0,0 – 2,0 OГ/492 нм < (1,0 % + 0,010 ОГ) 2,0–3,0 ОГ/492 нм < (1,5 % + 0,010 OГ)
- Лінійність 340 -399 нм 0,0 до 2,0 OГ: <2 %, R2 >= 0,999 400–750 нм 0,0–2,0 ОГ: <1 %, R2 >= 0,999; 2,0-3,0 OГ: <1,5 %, R2 >= 0,999
- Роздільна здатність – 0,001 OГ
- Інтерфейс – RS-232C (дистанційне керування)/паралельний
- Струшування – лінійне струшування (4 різні режими)
- Розміри (ш*г*в) 28,5*34,0*14,5 см
- Вага 6,2 кг (8,6 кг включно з усіма опціями)
Додаткові опції:
- касетний блок на 6 світлофільтрів
- градієнтний фільтр – від 400 до 700 нм (крок 1 нм)
- контроль температури – до 42 °C (роздільна здатність 0,1 °C)
Прилад комплектуєть програмним забезпеченням MAGELLAN V7.3 STD
